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  • 产品名称:双波段发射率测试仪

  • 产品型号:XCIR-2
  • 产品厂商:星晨
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简单介绍:
产品概述: 双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号:XCIR-2
详情介绍:
产品概述:

双波段发射率测试仪/远红外线测试仪/发射率测试仪/发射率检测仪 型号:XCIR-2

双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理,即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3~5um、8~14um、1~22um三个波段发射率。对特殊需要的用户,通过专用的控温加热装置,在常温至300℃温度范围加热样品,进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所,东南大学等单位使用。 
仪器特点: 
1.仪器中有小型标准黑体辐射源,采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk),使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围,而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。 
2.采用了独特的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。 
3.在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探测通道外,还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道,从而确保了仪器的测量精度。 
4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测,进一步提高了仪器性能。 
5.本仪器操作简单、使用方便、测量快速。 
6.可按需更换滤光片,在多个红外光谱波段内进行测试。 
7.在测量过程中不损伤被测样品。 
8.本仪器带RS-232串口及复位键RST。 
主要技术指标  
1.测量波段:3~5um、8~14um、1~22um   
(若用户有特殊要求,可定制不同波段滤光片) 
2.发射率测量范围:0.1~0.99 
3.灵敏度NE△ε:0.001 
4.示值误差:±0.02 (ε>0.50) 
5.重复性:±0.01 
6.样品温度:常温(特殊用户为常温~300℃) 
7.样品尺寸:>Ф50 
8.测量时间:3秒后按测量键E,即显示ε测量值。 
9.显示方法:LED数字显示,末位0.001 
10.电   源:  交流220V   50HZ

配置:

主机箱 1台,测量头 一个,连接线2根,电源线2根,3-5um滤光片1块,8-14um
滤光片一块,镀A1参考板一块,CU参考板一块,样品加温装置一套,使用说明书一份,产品合格证,保修卡各一份

 1.一年质保,终身维护。

2.在质保期内,除人为因素外,任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、

故障我们免费修理或更换。

3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后,十分钟内回应。

4.保证及时向用户以最优惠的价格提供所需的备品备件和易损件。 
联系电话:18888802561  联系人:任小姐

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